TEM线扫纵坐标cps（mtt纵坐标）

TEM测试常见问题及解答(二)

1、. 电子枪放电问题：在确保电压和灯丝电流正常的情况下，若仍无法看到光线，可能是电子枪阀未打开或shut阀挡住了光线，需检查相关设置和阀门状态。1 标尺大小的标注：标尺大小通常采用5等数进行标注，具体形式依据实验需求和标准规定。

2、二次衍射是指电子在物质内部多次散射后，在不应出现衍射的地方出现的衍射现象。在确定晶体对称性时，必须注意这种现象。二次衍射点是衍射波再次发生衍射的结果，通常出现在轴上，其强度也增强。超晶格是由两种晶格匹配良好的半导体材料以严格周期性生长而成，每层材料厚度在100nm以下。

3、在TEM测试中，常见问题包括选区电子衍射（SAED）的区域大小限制、能谱分析时样品元素的明确说明、图像中圈的解释等。选区电子衍射中的“选区”通常为直径约200nm的圆，而非直接拍摄所得。能谱分析时需要提供样品所含元素及需要输出的具体元素，以确保分析的准确性和精确性。

4、在中材电镜中心，我们专注于TEM表征，提供专业的样本制备、测试和数据分析服务。我们的FEI Talos F200X设备拥有最小200nm的选区光阑，对于小于50nm的微小颗粒，我们建议采用HRTEM技术，确保结果的准确性。如果你对透射电镜有更多疑问，欢迎关注我们的公众号“中材新材料研究院”，与我们直接交流。

5、TEM测试的重要知识包括以下几点：基本原理：高能电子束穿透：TEM使用波长极短的高能电子束穿透薄样品，以获取样品内部结构信息。历史背景：1931年，恩斯特·鲁斯卡和其导师研发出世界上首台TEM。系统构成：电子光学系统：核心部分，决定TEM的分辨率。

6、例如，虽然电解抛光法能提供均匀的样品表面，但操作过程需谨慎以避免影响样品结构；而萃取复型虽然能详细分析第二相，但操作过程可能较为复杂。综上所述，TEM透射电镜测试的制样方法多种多样，每种方法都有其独特的优势和限制。在实际应用中，需根据具体需求进行权衡和选择，以实现高分辨率TEM图像的获取。

SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少

1、EDAX与ED的含义：EDAX一词可指X射线能量色散分析法（EDS或EDX），也可指生产能谱仪的公司——美国EDAX公司。ED则主要指扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）上的能谱仪，或该技术的最早生产公司——美国伊达克斯有限公司。

2、EDAX指的是X射线能量色散分析法（EDS或EDX）和最早生产波谱仪的公司——美国EDAX公司。ED是扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）上的一种附属分析设备——能谱仪，或最早生产能谱仪的公司——美国伊达克斯有限公司，或这项分析技术的代称。

3、关于EDS的缩写，过去存在EDS、EDX、EDAX等不同的说法。这些缩写代表了不同的翻译方式，但到了2004年左右，相关协会统一规定，EDS即为能谱或能谱仪，而EDX则代表能谱学。尽管如此，部分文章仍使用其他说法，这反映了行业内的约定俗成。

4、虽然早期EDS有多种缩写，如EDS、EDX和EDAX，但现今共识是EDS代表能谱或能谱仪，而EDX则用于指能谱学。在分辨率方面，尽管许多人误认为TEM的能谱分辨率更高，但实际上，同一厂家的SEM能谱分辨率通常优于TEM，特别是在定量分析时，SEM的样品制备更为简便且厚度影响较小。

5、首先，关于缩写，尽管有EDS、EDX和EDAX等多种形式，但自2004年起，EDS被规范为能量分散谱，而EDX则指能谱学。尽管不同厂商和文献中可能有所差异，但了解EDS为主流用法即可。其次，关于SEM和TEM能谱的分辨率，虽然许多人认为TEM的误差更小，但实际情况并非如此。